教員情報 - 吉村　正義 | 京都産業大学

研究キーワード：LSI，設計自動化技術，ディペンダブルコンピューティング，高信頼化技術，安全・安心

（最終更新日 : 2025-09-17 19:10:35）

ヨシムラ　マサヨシ YOSHIMURA MASAYOSHI
吉村　正義

所属

京都産業大学情報理工学部情報理工学科

職種教授

研究概要
◆研究課題 IPコアの流用を検知するための設計技術 ◆研究概要社会の安全安心を司る社会情報基盤において，LSI は重要な部品である.近年LSIの設計に，第三者が設計し提供するLSIの部分的な設計データ (以下 IPコア)が広く使われている.このIPコアは，ブラックボックス化された機能確認用の設計データとホワイトボックス化された物理設計用の設計データから構成されている.しかし，ホワイトボックス化された物理設計用の設計データに基づいて，機能確認用の設計データの逆生成を防ぐことは原理的に困難である.そのため，悪意のある設計者によって，機能確認用の設計データを逆生成され，生成された設計データの改竄や流用の恐れがある. 本研究では，この改竄や流用を防止するためのIPコア設計技術の開発を行う.具体的には，順序回路の特定状態においてのみ起動するトロイ回路を混入する技術と論理暗号化技術に基づいた鍵入力に応じて論理回路の振る舞いを変化させる技術によって，IPコアが不正に流用や改竄された際に，LSI や設計データに予め混入されたトロイ回路によって，流用や改竄の検知を行い，IP コアの流用を抑止する昨年度は鍵入力を特定されない論理暗号化技術の開発をおこなった．今年度はこの論理暗号化技術を拡張し，鍵入力値に基づいて，論理回路の振る舞いを変え，流量や改竄を検知できる設計技術の開発を行う．

学会発表
2024/10/08	A Low Power Oriented Multiple Target Test Generation Method for 2-Cycle Gate-Exhaustive Faults (37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT2024)
2023/10/03	A Block Partitioning Method for Region Exhaustive Test to Reduce the Number of Test Patterns and Improve Gate Exhaustive Fault Coverage (2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT))
2023/10/03	An Evaluation of a Testability Measure for State Assignment to Estimate Transition Fault Coverage for Controllers (2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT))
2023/10/03	Data Paths at Register Transfer Level Using Status Signal Sequences Based on k-Consecutive State Transitions for Field Testing (2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT))
2022/10/19	CRLock: A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method at Register Transfer Level (2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT))
全件表示（75件）

著書・論文歴
2024/03	論文	CRLock: A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method for Controller at Register Transfer Level IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E107.A (3),583-591頁 (共著)
2017/12	論文	A Don ’t Care Filling Method for Low Capture Power based on Correlation of FF Transitions Using SAT IEICE Transactions on Fundamentals E100-A (12) (共著)
2013/09	論文	A Test Compaction Oriented Don’t Care Identification Method Based on X-bit Distribution IEICE Transaction on Information and Systems E96-D (9),1994-2002頁 (共著)
2013/08	論文	Efficient Fault Simulation Algorithms for Analyzing Soft Error Propagation in Sequential Circuits IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 6 (August issue),127-134頁 (共著)
2013	論文	スキャンベース攻撃への対策日本信頼性学会誌 35 (8),496 (単著)
全件表示（12件）

学歴
2001/10～2003/03	大阪大学基礎工学研究科システム人間系専攻博士課程修了博士(工学) (計算機システム)
1996/04～1998/03	大阪大学基礎工学研究科修士課程修了修士(工学)
1992/04～1996/03	大阪大学基礎工学部システム工学科卒業

職歴
2023/04/01 ～	京都産業大学情報理工学部情報理工学科教授
2018/04/01 ～ 2023/03/31	京都産業大学情報理工学部情報理工学科准教授
2014/04/01 ～ 2018/03/31	京都産業大学コンピュータ理工学部コンピュータサイエンス学科准教授

所属学会
	IEEE (The Institute of Electrical and Electronics Engineers)
	情報処理学会
	電子情報通信学会

研究課題・受託研究・科研費
2008/04 ～ 2011/03	安全性と製造検査容易性の両立したLSI設計方法の研究法の研究若手研究(B)
2007/10 ～ 2013/03	統合的高信頼化設計のためのモデル化と検出・訂正・回復技術競争的資金等の外部資金による研究
2013/04 ～ 2015/03	秘密情報の秘匿性と製造検査容易性の両立をはかるLSI設計手法の開発挑戦的萌芽研究
2015/04 ～ 2018/03	製造過程でのトロイ回路混入を検知するLSI設計技術に関する研究基盤研究(C) 一般
2018/04 ～ 2021/03	IPコア内のトロイ回路を特定するLSI設計技術に関する研究基盤研究(C)(一般)
全件表示（6件）

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吉村研究室web

現在の専門分野
計算機システム, 情報セキュリティキーワード(LSI，設計自動化技術，ディペンダブルコンピューティング，高信頼化技術，安全・安心)