ヨシムラ マサヨシ   YOSHIMURA MASAYOSHI
  吉村 正義
   所属   京都産業大学  情報理工学部 情報理工学科
   職種   准教授
発表年月日 2020/10/19
発表テーマ A Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the Number of Test Patterns Using Partial MaxSAT
会議名 2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
主催者 IEEE
学会区分 国際学会
発表形式 口頭(一般)
単独共同区分 共同
国名 イタリア
開催地名 Roma
発表者・共同発表者 Ryuki Asami, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura and Masayuki Arai