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ヨシムラ マサヨシ
YOSHIMURA MASAYOSHI
吉村 正義 所属 京都産業大学 情報理工学部 情報理工学科 職種 教授 |
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| 発表年月日 | 2020/10/19 |
| 発表テーマ | A Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the Number of Test Patterns Using Partial MaxSAT |
| 会議名 | 2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) |
| 主催者 | IEEE |
| 学会区分 | 国際学会 |
| 発表形式 | 口頭（一般） |
| 単独共同区分 | 共同 |
| 国名 | イタリア |
| 開催地名 | Roma |
| 発表者・共同発表者 | Ryuki Asami, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura and Masayuki Arai |