ヤマガミ ヒロシ
YAMAGAMI HIROSHI
山上 浩志 所属 京都産業大学 理学部 物理科学科 職種 教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2010/08 |
形態種別 | 研究論文 |
査読 | 査読あり |
標題 | Delocalization of the f Electron in CexLa1-xRu2Si2 |
執筆形態 | その他 |
掲載誌名 | JOURNAL OF THE PHYSICAL SOCIETY OF JAPAN |
出版社・発行元 | PHYSICAL SOC JAPAN |
巻・号・頁 | 79(8) |
著者・共著者 | Yuji Matsumoto,Noriaki Kimura,Haruyoshi Aoki,Motoi Kimata,Taichi Terashima,Shinya Uji,Tetsuo Okane,Hiroshi Yamagami |
概要 | We have preformed the de Haas-van Alphen effect measurements in CexLa1-xRu2Si2 with magnetic fields in the (001) plane. All the oscillations corresponding to those in LaRu2Si2 can be observed in low Ce concentration samples and the evolution of the Fermi surface properties with x is found to depend strongly on the Fermi surface sheet. We show that the evolution can be attributed to anisotropic hybridization of the f electron with conduction electrons and resultant delocalization of the f electron. |
DOI | 10.1143/JPSJ.79.083706 |
ISSN | 0031-9015 |
Put Code(ORCID) | 34842032 |
PermalinkURL | http://orcid.org/0000-0001-9239-0621 |